L’appareil de recherche de défauts compact OmniScan™ X3 à 64 canaux améliore l’efficacité et les performances de l’imagerie multiélément (PA) et de l’imagerie générée par la méthode de focalisation en tout point (TFM).

WALTHAM (Mass., États-Unis), le 22 février 2022 — Le nouvel OmniScan™ X3 64 procure à la gamme d’appareils de recherche de défauts multiéléments éprouvés sur le terrain d’Olympus une puissance et une performance accrues. Doté de 64 canaux, cet appareil supporte des sondes multiéléments (PA) équipées d’un plus grand nombre d’éléments, ce qui augmente la vitesse d’acquisition requise pour l’obtention d’une imagerie générée par la méthode de focalisation en tout point (TFM). Les inspecteurs peuvent tirer profit de ces capacités accrues pour élargir et diversifier la gamme de leurs applications d’inspection.

Quand puissance et portabilité ne font qu’un

La grande portabilité et les performances améliorées de l’appareil de recherche de défauts OmniScan X3 64 augmentent la productivité de l’inspection. Il peut traiter les images TFM jusqu’à quatre fois plus vite que son prédécesseur*, tout en étant intégré au même boîtier robuste et facile à transporter. Sur les chantiers où l’espace est restreint, les inspecteurs apprécieront la conception plus compacte et moins encombrante qu’offre l’OmniScan X3 64 en comparaison d’autres appareils à 64 canaux. Les inspecteurs peuvent également travailler sur place plus longtemps et effectuer un plus grand nombre de balayages sans avoir à transférer les données acquises grâce à l’importante capacité de stockage intégrée de 1 To.

Facilitation des applications complexes et avancées

Facilitant l’inspection de pièces ou de soudures complexes et épaisses, les ouvertures complètes PA à 64 éléments et TFM à 128 éléments assurent le fonctionnement optimal des sondes avancées Dual Linear Array™ (DLA) et Dual Matrix Array™ (DMA). Tous les modèles de la série OmniScan X3 intègrent une prise en charge des sondes DLA et DMA, ce qui assure un gain de temps lors de la configuration.

Les petits défauts sont plus faciles à distinguer grâce à l’imagerie haute résolution PA et TFM qu’offre l’OmniScan X3 64. Acceptant les sondes à plus basse fréquence, l’OmniScan X3 64 peut augmenter la pénétration dans les matériaux atténuants tout en réduisant la saturation du signal. Ces capacités de détection améliorées facilitent la surveillance des défauts à un stade précoce, notamment l’attaque par l’hydrogène à haute température (HTHA).

Processus de travail optimisé pour l’inspection des grandes pièces

Pour une efficacité accrue lorsque les données acquises requièrent une analyse avancée, l’ensemble du processus d’inspection PA peut être réalisé à l’aide du logiciel WeldSight™ d’Olympus. Grâce à l’application WeldSight Remote Connect installée sur l’OmniScan X3 64, les inspecteurs peuvent visualiser les données acquises instantanément sur un PC et tirer profit de l’interface utilisateur personnalisable et des outils logiciels facilitant les procédures d’inspection spécialisées, notamment les soudures nouvellement effectuées sur les réservoirs sous pression.

Pour en savoir plus sur l’appareil de recherche de défauts OmniScan X3 64 et la gamme de produits OmniScan X3, visitez notre site Web à l’adresse www.Olympus-IMS.com/phasedarray/OmniScan-X3.

Pour en savoir plus sur le logiciel WeldSight, visitez notre site Web à l’adresse www.Olympus-IMS.com/WeldSight/.

* Résultats obtenus à l’aide d’une sonde à 64 éléments, par rapport à un modèle OmniScan X3 32:128.

Personne-ressource pour les médias :
Hilary Banda
(781) 419-3624
Hilary.Banda@EvidentScientific.com

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